- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器
- 相位调制器(phase modulators)
- 速度匹配光电探测器(velocity-matched photodetectors)
- 四分之一波片反射镜(quarter-wave mirrors)
- 双折射调谐器(birefringent tuners)
- 声光调制器(acousto-optic modulators)
- 普克尔斯盒(Pockels cells)
- 模消除腔(mode cleaner cavities)
- 模清洁器(mode cleaners)
- 脉冲选择器(pulse pickers)
- 量子阱(quantum wells)
- 量子点(quantum dots)
- 亮度转换器(brightness converters)
- 空间光调制器(Spatial Light Modulator)
- 可饱和半导体布拉格反射镜(saturable Bragg reflectors)
- 抗反射涂层(anti-reflection coatings)
- 金属反射镜(metal-coated mirrors)
- 金属-半导体-金属光探测器(metal–semiconductor–metal photodetectors)
- 金属-半导体-金属光电探测器(metal-semiconductor-metal photodetectors)
- 集成光学(integrated optics)
- 激光功率稳定系统(noise eaters)
- 积分球(integrating spheres)
- 硅光子学(silicon photonics)
- 光子学(photonics)
- 光学滤波器(optical filters)
- 光衰减器(optical attenuators)
- 光束整形器(beam shapers)
- 光电子学(optoelectronics)
- 光电探测器(photodetectors)
- 光导开关(photoconductive switches)
- 功率计(Powermeters)
- 法兰(Flange)
- 发光二极管(light-emitting diodes)
- 二色性反射镜(dichroic mirrors)
- 电吸收调制器(electroabsorption modulators)
- 电介质涂层(dielectric coatings)
- 电介质反射镜(dielectric mirrors)
- 电光调制器(electro-optic modulators)
- 超辐射光源(superluminescent sources)
- 超辐射发光二极管(superluminescent diodes)
- 超反射镜(supermirrors)
- 布儒斯特盘(Brewster plates)
- 布拉格反射镜(Bragg mirrors)
- 标准具(etalons)
- 半导体可饱和吸收反射镜(semiconductor saturable absorber mirrors)
- 白光光源(white light sources)
- Q开关(Q switches)
- P-I-N型光电二极管(p-i-n photodiodes)
- Lyot滤波器(Lyot filters)
- G-T干涉仪 interferometers(Gires–Tournois interferometers)
- GT干涉仪(Gires-Tournois interferometers)
定义:
用于测量光学功率的装置,利用的是吸收结构的热性质。
光功率计(或激光功率计)是测量激光光束功率的装置。大多数功率计是将光功率转化为某些吸收结构中的热功率,然后测量引起的温度变化(或者引起吸收结构和支架之间的温度差),例如可以采用温差电偶来测量。这种功率计(如图1)适宜于测量平均功率在0.01W和几千瓦之间的情况;当功率高于10W时需要一些冷却装置。该功率计非常结实耐用(尽管需要避免紧聚焦于吸收结构上),精度适中,适用于很大的波长范围(灵敏度与波长基本无关),并且响应相对比较慢。
当热功率计设定在很高灵敏度(响应度)时,例如,峰值功率小于100mW时,在测量过程中手不能碰到支架。因为手碰到支架引起的温度变化会影响读数。
采用光电二极管可以得到更快并且更灵敏的功率计。如果采用合适的衰减器,就可以用来测量更高的功率。但是,这种功率计没有热功率计结实耐用。并且它的灵敏度与波长有关,因此利用光电二极管的功率计通常需要设定波长。这种装置具有内置的校准表来补偿与波长相关的响应度。显然的,这种功率计不适用于宽带光谱或者可见光光谱,但是当激光波长几乎不变的情况下它非常适用。
各种光功率计的一个普遍问题就是响应的一致性。对于热功率计,响应不一致来自于不同光束位置处的吸收率或者温度分布。而对于光电二极管,很高光强时的损伤会得到非一致的响应。
挑选器件注意事项
为了寻找最合适的光功率计类型和模型,需要考虑很多因素。最基础的一些因素如下:
- 允许的最大光功率(对于有限或无限的时间间隔)
- 测量范围内的测量次数和间隔
- 最小的测量范围以及温度涨落等引起的噪声水平
- 准度和精度,响应一致性以及是否需要重新校准器件
- 允许的波长范围,以及根据测量波长是否需要重新设置
- 速度(响应时间,测量带宽,功率采样速率):例如,如果采用响应很快的装置可以更快更容易的实现激光器对准。
- 测量头的尺寸以及稳定防止的机械途径,并且可以适应不同的光束高度
- 根据不同的功率需要采用不同的测量头
- 采用其他测量头时能够采用显示装置,例如测量热电脉冲能量时
- 模拟和数值显示(与实际应用情况有关,有时采用模拟和数值显示更加方便)
- 记录测量历史结果的内存
- 用于自动记录数据和远程控制的电脑界面
- 隔离外界光的保护装置(例如,敏感测量时的杂散光)
- 冷却装置
- 电源采用(可充电)电池或者电源适配器