WaveMaster® Field为研发所设计,该系统既可以在±60°范围内对整个视场内的样品进行全面测量,又可以进行后续的深入分析。只需几个步骤就可以对入射角和波长进行灵活调整,以模拟不断变化的照明条件,同样也易于适用不同的样品。
此外,离轴测量增加了对透镜定心的灵敏度,从而可以更精确地优化透镜对所需波前的定位。
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