- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
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- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
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- 光外差探测(optical heterodyne detection)
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- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
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- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
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- 光外差探测(optical heterodyne detection)
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- 功率密度(power density)
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- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
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- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。
- 相关器(Autocorrelators)
- 外差线宽测量(self-heterodyne linewidth measurement)
- 载波包络偏移(carrier–envelope offset)
- 雪崩光电二极管(avalanche photodiodes)
- 移距离测量法(phase shift method for distance measurements)
- 频谱相位(spectral phase)
- 频谱干涉(spectral interferometry)
- 频谱测量(frequency metrology)
- 拍音(beat note)
- 脉冲重复频率(pulse repetition rate)
- 脉冲特性(pulse characterization)
- 脉冲能量(pulse energy)
- 激光测距(distance measurements with lasers)
- 光钟(optical clocks)
- 光学计时装置(optical clockworks)
- 光学计量(optical metrology)
- 光外差探测(optical heterodyne detection)
- 光束质量分析仪(beam profilers)
- 光谱亮度(spectral brightness)
- 光频标(optical frequency standards)
- 光电二极管(photodiodes)
- 光电倍增管(photomultipliers)
- 功率密度(power density)
- 干涉仪(interferometers)
- 分贝(decibel)
- 参考腔(reference cavities)
- 波长计(wavemeters)
- 泵探头测量(Pump–probe Measurements)
- 泵浦探测(pump-probe measurements)
- 白光干涉仪(white light interferometers)
- Z扫描测量(z-scan measurements)
- M2因子(M2 factor)
- FROG工具,频域分辨光开关(frequency-resolved optical gating)
- 光学计量
定义:
一种基于自聚焦效应的,用于测量材料克尔非线性强度的方法
Z扫描测量技术通常用于测量光学材料的克尔非线性强度(即非线性折射率n2)。其原理是:将待测材料样品移动通过激光束的焦点,并在样品后面的某个地方测量光束半径(或光轴上强度)。由于自聚焦效应的作用,这些量会发生变化,从而可以得到光束半径(或光轴上强度)关于样品位置的函数。
如图1所示,是一种常见的Z扫描测量装置。如果非线性折射率为正,并且将样品置于焦点的后面,自聚焦效应将减小光束的发散,从而提高检测器的信号强度。如果样品被放置在焦前面,焦点将向左侧移动,并且聚焦后的强的光束发散将减小检测器的信号强度。从所测量的检测器信号强度对样品位置的函数关系可以计算出非线性折射率的大小。
需要注意的是一些非线性吸收(例如双光子吸收)也可能会影响所测量的信号。不过,这可以通过额外记录全部的透射光束功率进行校正。